表面微粒子计数器

表面微粒子计数器QIII為世界，採接觸式、量測物體表面Particle數量的設備！

半導體，面板廠，設備商與所有PARTS CLEAN廠商，驗證PARTS表面是否乾淨的檢驗標準工具，表面尘埃粒子计数器用于测量各种高洁净度要求的产品，光学镜片组件，液晶面板及超净微环境受控的半导体机台等表面所附着的尘埃粒子的粒径大小及单位面积内的数量。

QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪更新功能： 
1. 新的取样模式增加准确度 
2. 7" 800X480大触控萤幕 (QIII+ 6"触控萤幕) 
3. 改善取样Probe插座.易拔插与更换 
4. 二个使用者可换电池插座.可热拔插 (原厂标配2颗电池.充电器选配) 
5. 可利用USB下载资料 
6. QIII Ultra 可量测到0.1Micron 

QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪适合使用单位: 
      适合客户群:  包装材料厂商: 如包装材, 无尘纸,.....等 
                    药厂设备机台装表面清洁验证: 理瓶区,灌装机, 分装机, 药厂包装材料厂商: 如包装材,.... 
       半导体黄光, 蚀刻制程, 零件清洗商,设备清洁维护, 光电厂, 玻璃基板厂等 
        对曝光机; 显影机 ,蚀刻, 黄光 及偏光板贴附机台效果显着 
         Capture filter 能收集particles 由EDX 或FTIR分析particle 成分。 
         适合单位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC ,  Microntation , Etch, Diffusion..